儀器顆粒計(jì)數(shù)應(yīng)用庫(kù)爾特原理（電子感應(yīng)區(qū)原理），通過(guò)顆粒個(gè)體體積測(cè)量分析整體樣品的粒度分布與顆粒數(shù)目（體積當(dāng)量粒徑），達(dá)到一種“三維”和“個(gè)體”兼?zhèn)涞臏y(cè)量能力，實(shí)現(xiàn)可測(cè)量顆粒真是的粒徑分布，一次分析即可獲得*的分辨率和高度的準(zhǔn)確性，并且數(shù)目的測(cè)量達(dá)到zui高度的準(zhǔn)確度預(yù)計(jì)性。歷經(jīng)半個(gè)多世紀(jì)的考驗(yàn)，為一致*的粒度儀。亦為一致認(rèn)可的粒徑分析標(biāo)準(zhǔn)參考方法。